AM測量系統:
AM角度測量系統,是SPM公司自主開發,針對回轉控制臺角度和弧度顯示和控制的測量系統。采用磁性原理,利用磁柵尺和磁敏磁頭相對移動進行角度測量。利用磁柵尺比較柔軟的特性,使磁尺與回轉臺緊密貼合,實現角度和弧度測量。
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